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专家研讨会讨论SSPC新的PA2:涂层干膜厚度测量标准

SSPC和JPCL将主办一场免费的网络研讨会,讨论关于SSPC 新的PA2 制定情况。

时间:2012年10月17日 星期三 美国东部时间11:00 AM~12:00 PM

主讲人:Bill Corbett    KTA-Tator  技术服务经理

会议介绍:

SSPC的涂层厚度测量标准自1973年首次出版以来,经过了多次的编辑和小修改,但是现在仅仅是小修改已无法满足现代工业发展的要求了,重修涂层厚度测量标准众望所归。修订后的标准将侧重于测量采集的频率和可接受性,而量具的使用标准参照ASTM D7091执行。

此次的研讨会讨论新的PA 2,其中包括针对标准中特殊应用提供指导的8个附录。 会议还将对ASTM D7091的基本内容进行说明。

 

 

 

作者:Elaine  发布时间:2012-10-11